1、測試條件對測量結(jié)果的影響
首先考慮測量條件的問題，對于不同容值的貼片電容會采用不同的測試條件來測量容值，主要在測試電壓的設(shè)定和測試頻率的設(shè)定上有區(qū)別，下表所示為不同容值的量測條件:
電容 AC 電壓 頻率 容量>10μF 1.0± 0.2Vrms 120Hz 1000pF<容量≦10μF 1.0± 0.2Vrms 1kHz
容量≦ 1000pF 1.0± 0.2Vrm 1MHz
2、測量儀器的差異對測量結(jié)果的影響.
大容量的電容（通常指1UF以上）測量時更容易出現(xiàn)容值偏低的現(xiàn)象，造成這種現(xiàn)象的主要原因是施加在電容兩端的實際電壓不能達(dá)到測試條件所需求的電壓，這是因為加在電容兩端的測試電壓由于儀器內(nèi)部阻抗分壓的原因與實際顯示的設(shè)定電壓不一致。為了使測量結(jié)果誤差降到最低,我們建議將儀器調(diào)校并盡量把儀器的設(shè)定電壓跟實際加在電容兩端所測的電壓盡量調(diào)整,使實際于待測電容上輸?shù)某鲭妷阂恢隆?/div>
注意： 上表中所示的電壓是指實際加在測試電容兩端的有效電壓（理想電壓）。
由于測試儀器的原因，加在電容兩端實際的輸出電壓與設(shè)定的測量電壓(理想電壓）實際上可能會有所出入。
3、影響高容量電容容值測量偏低的因素
（1） 測試儀器內(nèi)部的阻抗之大小影響.
由于不同的測試儀器之間的內(nèi)部阻抗都不同，造成儀器將總電壓分壓而使加在測試電容兩端的實際電壓變小。在實際的測試過程中，我們有必要先使用萬用表等工具測試夾具兩端的實際電壓，以確定加在測試貼片電容兩端的輸出電壓。
（2）不同阻抗的測試儀器的輸出電壓對比如下：
儀器內(nèi)阻100Ω 1V * [100Ω/(100Ω+16Ω)] = 0.86V 10uF測試電容的兩端電壓 ：
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